儀器用途一
翻新及二手器件檢測
• 可由倉庫部門在收到集成電路時進行檢查, 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門的員工不需要電子知識即可操作這個系統。
• 檢查可能偽造的集成電路, 并分析供貨商的測試數據。用戶可應用完整的報告, 確定問題的來源。
翻新及二手器件檢測儀
能快速簡單檢測出翻新IC及集成電路測試的解決方案。
透過精密的PinPrint(針印)測試算法則,能夠辨識出有不同內部結構或根本沒有結構, 甚至是由不同廠家所制造的集成電路。
他就像您的電子守衛, 守衛在您生產設備之入口, 不受偽造元器件之滲透傷害。
何謂偽造翻新集成電路
Counterfeit [koun-ter-fit](形容詞): 意思是仿造, 以便虛偽不實地假裝是真品。
制造膺品(仿冒品)集成電路是非法的, 會出現(仿冒品)是因為電子零件的可轉讓。全球任何需要制造PCB集成電路的公司都在承擔這個風險, 也或許曾經收到過大批的”不良”元器件。
仿冒可透過各種過程達成: 在極不可靠的過程里, 把集成電路從報廢/棄置的電路板中取出, 接著作表面處理維修; 再加上偽相關信息于集成電路上, 包括制造廠商標, 然后拿來當作真品賣給粗心的買家。另一個方法則是真的憑正規的制造能力, 在標準工時以外的大夜班(ghost shift)生產集成電路, 然而, 以那種方式生產的芯片含有許多制造上的瑕疵, 有些甚至沒有硅片(silicon die)。
很不幸地, 得一直等到把它們放在PCB上, 在生產團隊對完整的組裝進行第一次測試時, 才可能鑒別到仿造的集成電路。如此將導致昂貴的過程－辨識問題集成電路、再把它們從生產中的所有電路板上拿掉。在某些情況下, 甚至得把整批成品回收回工廠。
5年來, 仿冒集成電路的舉發呈倍數地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球貿易總額的8%以上, 相當于損失60億的銷售額。
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測試適用范圍： 元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試
電路板測試-適用各種電路板的檢測（附加測試電纜線和各種封裝的測試夾）
測試原理（v-i曲線測試）：
對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅動信號，產生一個阻抗特征圖，以備對比和存儲。
被測器件和數據庫中標準動態阻抗圖相比對，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測試信號可設定的參數包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕枰M行調整以便得到準確的信息。
集成電路測試操作如此簡單:
1.從數據庫選擇要測試的集成電路型號.
2.將集成電路插入測試座.
3.執行測試
4.得到PASS或FAIL的測試結果.
不需要電子專業知識.
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測試結果直接: PASS或FAIL.
軟件可設定各種測試條件.
可提供完整的元件測試分析報告.
適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意:AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊。
測試通道
標準提供多達128個測試通道, 可設定用于不同的元器件封裝。
升級模塊：64通道
可擴充到192/256個測試通道。
用兩種模式掃瞄:
•一般模式: 掃描信號是以一固定管腳為參考點, 測試信號施加到待測元器件上。
•矩陣模式: 掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點, 測試信號循環組合施加到待測元器件上。
數據庫
用戶可根據自己的需要，用性能完好的器件創建ic的測試數據庫，以備日后測試使用。創建一個測試庫僅需要數秒的操作時間，操作十分簡單容易。
結果比較型式:
將數據庫中的IC與待測ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測IC的好壞,提供兩種比較型式:
•與數據庫中元件比較: 被測IC的V-I曲線與數據庫中的相同型號的IC比較
• 被測IC之間比較比較: 多個集成電路的之間的V-I曲線相比較。
軟件- 靈活性
1)軟件提供測試庫圖形化修改功能，以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測試庫,
2)軟件可以自定義各個通道的使用，一臺機器可以同時檢測多個器件
報告
1）軟件可產生一詳細的測量報告, 包含集成電路相片。這份報告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。
2）用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動態阻抗圖可儲存在pc中，并可隨時讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。
3）為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲數據文件夾內增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。
轉接器
1）標準型:
用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。
通用型:
用于SOIC及PLCC封裝; 一個轉接器即適用于各種芯片尺寸, 測試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。
客制型:
可訂制各種封裝的轉接器, 包括: BGA、QFP; 請進一步洽詢, 以設計符合您需求的轉接器。
技術規格
技術參數:AT256
| 掃描測試波形 | 正弦波,鋸齒波，三角波 |
| 掃描測試頻率 | 6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz |
| 掃描電壓(Vs) | 4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進0.1V |
| 掃描源電阻(Rs) | 3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ |
| 掃描通道 | AT128通道數量:128通道 AT192通道數量:192通道 AT256通道數量:256通道 顯示模式:VI曲線圖 掃描模式:手動或連續, 或自行設定掃描次數 |
| 掃瞄模式 | 一般模式:掃描信號是以一固定管腳為參考點,測試信號施加到待測元器件上. 矩陣模式:掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點,測試信號循環組合施加到待測元器件上. |
| 電腦連接 | USB 連接電腦使用,標準配置含上位機軟件 |
| 適合不同封裝形式元件: | 適合不同封裝形式的元件: -雙列插腳(DIL) -小型封裝集成集成電路(SOIC) -小型封裝(SSOP, TSOP) -塑料無引線芯片載體封裝(PLCC) -四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP) -球門陣列封裝(BGA) 注意:AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊及電路板。 |
| 測試報告 | 可自行編輯測試報告 |
| 功率需求 | 線路電壓:85～264VAC 頻率:47～63Hz 功率:最大150W |
| 尺寸/重量 | 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg |
| 操作溫度.濕度 | 溫度:10°C～30°C濕度: 20～80% RH。 |
| 保修期 | 一年 |
| 認證 | CE認證& RoHS合格。 |
| 計算機規格需求 | Microsoft Windows XP或Vista, Pentium 4或更高 最小的RAM:512 MB 硬盤空間:200MB USB2.0高速傳輸 鼠標,鍵盤與屏幕 |
| 標準配件: | 用戶手冊。 USB導線。 軟件CD(含驅動程序與操作手冊)。 |
| 選購配件: | 校正工具組。 各種轉接器。 |
最大測試管腳數:256
測試適用范圍：
元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試
電路板測試-適用各種電路板的檢測（附加測試電纜線和各種封裝的測試夾）